Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:
https://hdl.handle.net/20.500.12104/82931
Título: | PROPIEDADES FOTORRESISTIVAS DEL OXIDO DE NIQUEL(NiO) PREPARADO POR DIFERENTES METODOS |
Autor: | Gama Camacho, Angel Oswaldo |
Asesor: | Michel Uribe, Carlos Rafael Lopez Alvarez, Miguel Angel |
Palabras clave: | Fotorresistivas;Oxido;Niquel. |
Fecha de titulación: | 20-mar-2020 |
Editorial: | Biblioteca Digital wdg.biblio Universidad de Guadalajara |
Resumen: | En el presente trabajo de tesis, se analizó la respuesta del óxido de níquel (NiO) comercial y el obtenido mediante síntesis por coprecipitación y síntesis en solución acuosa, ante radiación electromagnética de diferentes longitudes de onda, particularmente en la región ultravioleta (UV), visible e infrarrojo (IR). Esto se efectuó estudiando la variación en la resistencia eléctrica del NiO para su posible aplicación en fotodetección y fotocatálisis. Se realizó la caracterización del material mediante difracción de rayos X (DRX) y se observó la morfología del mismo por medio de microscopia electrónica de barrido (SEM por sus siglas en ingles). Se realizó la comparativa del comportamiento fotoresistivo entre el óxido de níquel comercial y la muestra de óxido de níquel que presentó mejor caracterización, pureza y morfología. Por otro lado se realizó la medición de la banda de energía prohibida (llamada bandgap) experimentalmente y de la capacidad de respuesta de este material particularmente en la zona UV. |
URI: | https://hdl.handle.net/20.500.12104/82931 https://wdg.biblio.udg.mx |
Programa educativo: | Licenciatura en Física |
Aparece en las colecciones: | CUCEI |
Ficheros en este ítem:
Fichero | Tamaño | Formato | |
---|---|---|---|
LCUCEI10012FT.pdf | 4.97 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
Los ítems de RIUdeG están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.