Caracterización de películas delgadas de Si1-xGex depositadas mediante la combinación de plasmas de Si y Ge producidos por láser pulsado

Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/20.500.12104/80931

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	Gómez Rosas, Gilberto
dc.contributor.advisor	Quiñonez Galvan, Jose Guadalupe
dc.contributor.advisor	Campos González, Enrique
dc.contributor.advisor	Perez Centeno, Armando
dc.contributor.author	Estrada López, Angel
dc.date.accessioned	2020-06-06T22:35:33Z	-
dc.date.available	2020-06-06T22:35:33Z	-
dc.date.issued	2020-02-07
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/20.500.12104/80931	-
dc.identifier.uri	https://wdg.biblio.udg.mx
dc.format	application/PDF
dc.language.iso	spa	-
dc.publisher	Biblioteca Digital wdg.biblio
dc.publisher	Universidad de Guadalajara
dc.rights.uri	https://www.riudg.udg.mx/info/politicas.jsp
dc.title	Caracterización de películas delgadas de Si1-xGex depositadas mediante la combinación de plasmas de Si y Ge producidos por láser pulsado
dc.type	Tesis de Maestria
dc.rights.holder	Universidad de Guadalajara
dc.rights.holder	Estrada López, Angel
dc.type.conacyt	masterThesis	-
dc.degree.name	MAESTRIA EN CIENCIA DE MATERIALES	-
dc.degree.department	CUCEI	-
dc.degree.grantor	Universidad de Guadalajara	-
dc.degree.creator	MAESTRO EN CIENCIA DE MATERIALES	-
Appears in Collections:	CUCEI

Files in This Item:

File	Size	Format
MCUCEI10126.pdf Restricted Access	1.58 MB	Adobe PDF	View/Open Request a copy