Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: https://hdl.handle.net/20.500.12104/80931
Registro completo de metadatos
Campo DCValorLengua/Idioma
dc.contributor.advisorGómez Rosas, Gilberto
dc.contributor.advisorQuiñonez Galvan, Jose Guadalupe
dc.contributor.advisorCampos González, Enrique
dc.contributor.advisorPerez Centeno, Armando
dc.contributor.authorEstrada López, Angel
dc.date.accessioned2020-06-06T22:35:33Z-
dc.date.available2020-06-06T22:35:33Z-
dc.date.issued2020-02-07
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12104/80931-
dc.identifier.urihttps://wdg.biblio.udg.mx
dc.formatapplication/PDF
dc.language.isospa-
dc.publisherBiblioteca Digital wdg.biblio
dc.publisherUniversidad de Guadalajara
dc.rights.urihttps://www.riudg.udg.mx/info/politicas.jsp
dc.titleCaracterización de películas delgadas de Si1-xGex depositadas mediante la combinación de plasmas de Si y Ge producidos por láser pulsado
dc.typeTesis de Maestria
dc.rights.holderUniversidad de Guadalajara
dc.rights.holderEstrada López, Angel
dc.type.conacytmasterThesis-
dc.degree.nameMAESTRIA EN CIENCIA DE MATERIALES-
dc.degree.departmentCUCEI-
dc.degree.grantorUniversidad de Guadalajara-
dc.degree.creatorMAESTRO EN CIENCIA DE MATERIALES-
Aparece en las colecciones:CUCEI

Ficheros en este ítem:
Fichero TamañoFormato 
MCUCEI10126.pdf
Acceso Restringido
1.58 MBAdobe PDFVisualizar/Abrir    Request a copy


Los ítems de RIUdeG están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.