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TítuloAutor(es)Programa educativoCentro UniversitarioISSNPrograma educativoCentro UniversitarioTipo
Caracterización de la calidad de los alambres de cobre comerciales utilizando microscopía de fuerza atómicaResendis Arenas, Mariana Elizabeth---LICENCIATURA EN INGENIERÍA EN ELECTRÓNICA Y COMPUTACIÓNCULAGOSTesis de Licenciatura
Diseño e implementación de un sistema de captura y procesamiento de imágenes, utilizado para la medición interferométrica de deformacionesReyna Díaz, Fernando Manuel---LICENCIATURA EN INGENIERÍA EN ELECTRÓNICA Y COMPUTACIÓNCULAGOSTesis de Licenciatura
Modelado mediante "UxPT" de la asimetría en el proceso "e^+ e^ -> pi^+ pi^- y" incluyendo los efectos de lazo de kaones neutros y unitariedad para su ajuste con los datos experimentales de KloeAtilano López, Noé Guadalupe---LICENCIATURA EN INGENIERÍA EN ELECTRÓNICA Y COMPUTACIÓNCULAGOSTesis de Licenciatura
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